À la découverte du microscope électronique à balayage

Paris (Paris) • 13 et 14 octobre 2018
À la découverte du microscope électronique à balayage

Crédits : David Montero IMPC FR2482

[Visite] La plate-forme de microscopie électronique à balayage de l'Institut des Matériaux de Paris Centre (IMPC FR 2482) ouvre ses portes pour une démonstration sur :

  • le microscope électronique à balayage à émission de champ (FEGSEM)

  • le spectromètre EDX.

Au cours d'une visite de trois-quarts d'heure, le responsable présentera les principes de base du fonctionnement d'un MEB et du spectromètre EDX (analyse élémentaire) et fera une démonstration pratique des capacités des instruments sur des échantillons d'origine biologique, minérale et des matériaux de la recherche.

Renseignements sur les instruments :

http://www.impc.upmc.fr/fr/plateformes/microscopie/sem_feg.html

Entrée libre et gratuite, mais nombre de places limitées à 7 par visite : rendez-vous aux heures de visite aux point info du Village des Sciences

Mots-clés :
Sorbonne Université MEB EDX FEGSEM Microscopie électronique Analyse élémentaire microscopie spectrométrie

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